超快荧光寿命光谱仪

该系列荧光寿命光谱仪专门为超快荧光寿命的测量而设计。在设计过程中，着重解决了传统光路的构架对待测超快信号的脉冲展宽效应，从而大幅度提高了荧光寿命测量的精度。

该系列荧光光谱仪可以搭配不同的激发光源和探测器，以保证用户获得不同的荧光寿命测量范围。

主要技术特点：

- 荧光寿命测试范围5ps至ms范围（由激发光源与探测器决定）
- 采用最先进的时间相关单光子计数技术（TCSPC）进行荧光寿命测量,具有最高的测量精度
- 采用大尺寸样品室，更便于对样品的操作
- 运用独特的光路设计,防止脉冲展宽并消除色散，使短寿命测试结果更加精准
- 光谱测量范围可覆盖紫外-可见-近红外
- 可以与多种高重复频率的飞秒或皮秒脉冲激光器配合使用,提高实验室已有设备的利用率
- 紧凑型一体化设计,占用空间更小
- 便于操作的荧光寿命分析软件

主要测量功能：

- 荧光寿命/瞬态光谱测试
- 时间分辨荧光光谱
- 准稳态光谱测试
- 全自动时间分辨各项异性光谱测量（需要电动偏振器选件）
- 温度扫描过程中的荧光寿命及时间分辨荧光光谱测量（需选择制冷机或TE制冷样品架选件）

主要技术指标：

- 光学结构: 激发光路与发射光路垂直
- 工作原理: 时间相关单光子探测
- 寿命范围:  ~5ps-50us
- 光谱带宽: 1nm~40nm
- 时间色散:  零（运用双减单色仪）
- 光衰减器:  电脑控制连续可调衰减率
- 可选激发光源
          皮秒脉冲半导体激光器  (多种波长可选)
          皮秒脉冲LEDs     (多种波长可选)
          皮秒脉冲固体激光器