四探针金属/半导体电阻率测量仪

由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，它们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻率的测量。
用途：
（1） 金属、半导体、导电高分子薄膜（块体）电阻率的测量；
（2） 金属薄膜材料电阻率的测量（最大厚度0.2毫米）；金属块体材料电阻率的测量（最大厚度6毫米）
仪器组成：
1、 四探针组件
由具有引线的四根探针组成。
2、 SB118精密直流电流源
输出电流10-6~0.2安培范围内可调。
3、 直流数字电压表
直流数字电压表是具有6位半字长、0.1为微伏电压分辨率的带单片微机处理技术的高精度电子测量仪器。