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NORAN System SIX X-射线微区分析系统包括了高通量采集和数字光束控制电子学系统，和为了所有的采集，分析和报告的单独统一的软件程序。
对于传统的X-射线微区分析工作，系统六的功能在定性定量的谱分析中是最好的。自动的谱鉴定程序 — 精确度在工业领域中是最高的，还有易用的谱操作和电子鉴定工具，新的X-射线元素分布图和线扫描。
强有力的全谱图像和COMPASS软件是NORAN 能谱仪的专利技术，采集的每个像素点均有完整的经过死时间校正的能谱图，创造了一个完整的档案报告。谱图像包括了一整套微区分析工具。一次采集样品数据你可以在任何时间反复的对样品进行分析，不需把样品再次放回电镜中。COMPASS 自动化学组分分析，是根据谱图像中个元素峰值比例提取的原理。这个统计分析程序输出的图像和谱代表每一个“化学组分”分布。因为COMPASS是完全自动的，它不需用户的任何输入，而且时常会有意想不到的结果。
X-射线微区分析系统特点
l 飘移补偿选项
l 自动分析选项
l 化学粒子特征分析软件选项
l 定量的元素面分布和多元素线扫描
l 模拟谱峰的鉴定
l 一个用户界面或者窗口适合所有的应用方式
l 项目开发器可用于容易管理各个分析项目的数据和图谱
l 数字脉冲处理器和数字电子束控制电子学系统
l 高通量的采集，包括电镜控制参数，分析数据的精确结果
l 采集条件的自动的最佳选择
l 谱峰的自动校正在采谱和分析过程中自动完成
l 点击Word 和powerpoint 自动转出数据和谱图报告
l 数据被储存在工业标准的格式
X-射线微区分析
l X-射线元素面分布图像和多元素线扫描
l 自动的定性和定量分析
l 定量分析的PROZA修正程序
l 电子图像采集
l RGB彩色图像显示
l 自动的多点分析模式
全谱图像 Spectral Imaging
l 采集分辨率可设置到1024X1024像素，在电子图像的每一点中都经过死时间修正。全谱化学数据完全的获得样
l 在任何时间都可调出谱，X-射线图像和线扫描
l 标准的微量分析工具 — 谱分析，图像和X-射线图，线扫描，定性和定量分析
l 自动精确的谱峰鉴定
l 样品的全部数据（谱，图像，每个点的谱图）自动存档。
l 从存储数据中任意时间提取任意元素面分布和线扫描。
l 对提取的谱和图像进行定性定量分析
l 精确的谱峰鉴定
COMPASS化合物自动统计分析
l 快速的产生“化合物”成份图像，每个点经过校正
l 化学特征自动提取，完全不需设置步骤
l 在数据中可分析至每一个像素点
l 对复杂的化学特征分析有强有力的解决方法
l 2001和2002年度美国获奖分析软件
l Thermo Scientific享有专利权的，与Sandia国家实验室合作
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