XLE-3大平台金相显微镜

XLE-3型大平台检测显微镜

XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路、晶片的质量检测而设计开发制造的。

正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍摄，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储，查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大提高了工作效率。

1）  放大倍数：40倍至500倍

超大型载物台，可做大范围的纵横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，实效分析等。