显微镜颗粒测量仪器简介-显微清洁度等级测量？
解答：
利用显微镜将粉粒体放大，不仅可以直接量测粉粒体的粒径，还可以看見粉粒体的形状，最小可量测至0.1奈米。
但传统的人工逐一的测量单一颗粒的粒径再加以统计分析，不但耗费大量时间及人力且受人为因素影响极大，
因此较不适用于工业产品品质检测之用
所以搭配全自动显微油污等级分析系统可以克服以上缺点
与X光绕射法比较光绕射法有哪些缺点？
解答：光绕射法即是利用绕射原理，以激光撞击粉粒体表面
量测其反射光的角度，将各个数据资料加以统计分析即可计算出粉粒体粒径大小及分布特性。
此法仅能测得粉粒体的平均粒径，无法测得其粒径分佈且所得的粒径资料有限、准确度差及仪器价格昂贵
