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| 简单介绍： |
应用范围: LW200-4JS适用于厂矿企业,高等院校及科研机构作金相,岩相,矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测．也可以用于电子工业部门作晶体，芯片及新材料等方面的检验与分析． | |
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| 正置金相显微镜LW200-4JS 的详细说明 |
主要技术参数：
1..三目镜筒：倾斜45° 可旋转360° 瞳距55mm-75mm 视度±5度辅助倍数1.25×
2 平场大视野目镜: 高眼点10×Φ20mm
3.平场物镜：4X 10X 40X(s) 100 ×oil(可调换80×干镜)
4.总放大倍数：50 ×-1250×
5.载物台：尺寸160mm＊140mm移动范围75mm＊50mm
6.聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25径孔光栏 滤色片座
7..调焦：粗微动同轴 升降范围20mm 微动格值0.0002mm
8.光源：柯勒照明 正交偏振装置 滤色片座 可调卤素灯12v/50w
选型提示：
数码金相显微镜电脑成像系统；
1..LW200-4JS,图象适配镜，数码相机，
2..LW200-4JS,图象适配镜,300万数码彩色摄像头
3.LW200-4JS,图象适配镜,彩色摄像头,图象采集卡．
选购件：
＊金相分析软件；测量软件；数码相机；采集卡等
＊目镜：16X／20X 目镜
＊物镜：20X /25X/60X/100X干镜
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