时代涂层测厚仪|TT230涂层测厚仪
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时代TT230涂层测厚仪是超小型的涡流涂镀层测厚仪,TT230涂层测厚仪主要用于测量铝合金氧化膜以及铜铝非磁性金属的涂镀层,TT230涂层测厚仪有平均值\最大值\最小值\平均值计算功能,TT230涂层测厚仪测量范围为0～1250μm
时代TT230涂层测厚仪本仪器是一种超小型的测量仪。时代涂层测厚仪TT230它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230涂镀层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该TT230涂层测厚仪仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
时代TT230涂层测厚仪的主要功能:
可进行零点校准及二点校准。
可对测头进行基本校准。
设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
自动关机功能。
删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
时代TT230涂层测厚仪的主要技术指标:
测量原理：涡流法
测量范围：1～1250μm
测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准）